EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Сотрудничество Agilent Technologies с компанией Thales позволило применить технологию X-параметров в проектировании ВЧ систем

Сотрудничество Agilent Technologies с компанией Thales позволило применить технологию X-параметров в проектировании ВЧ систем

04.10.2012

X-параметры представляют собой совершенно новый вид описания нелинейных цепей, используемый для проектирования ВЧ устройств. Они позволяют инженерам точно описывать линейные и нелинейные компоненты, схемы и системы для быстрого и надежного поведенческого моделирования, что жизненно важно для проектирования высококачественных ВЧ модулей и "систем в корпусе". X-параметры могут создаваться на основе моделирования в САПР Agilent Advanced Design System или на основе данных, полученных от контрольно-измерительных приборов Agilent, и использоваться для ускорения разработки средств связи.

Сотрудничество Agilent с Thales в сфере нелинейных поведенческих моделей началось в 2005 году. Основной целью этого сотрудничества для компании Thales было применение этой технологии для проектирования ВЧ устройств. В результате компания Thales успешно разработала методику анализа паразитных составляющих с использованием моделей на основе X-параметров.

Методика компании Thales поддерживает произвольные топологии и проверена на ВЧ системах с однократным преобразованием частоты. Последующий анализ паразитных составляющих таких систем дал отличные результаты.

"Мы гордимся нашим многолетним сотрудничеством с компанией Agilent, поскольку концепция X-параметров получает все более широкое признание во всей отрасли, – сказал Жан Поль Мартино (Jean Paul Martinaud), менеджер по моделированию оборудования систем оборонного назначения компании Thales. – Мы смогли расширить применение X-параметров на моделирование приемников с однократным преобразованием частоты, что традиционно выполнялось с помощью обычных нелинейных поведенческих моделей. Мы надеемся на успешное продолжение нашего сотрудничества и стремимся к дальнейшему расширению применения X-параметров на более сложные системы".

"Являясь первооткрывателем X-параметров, компания Agilent продолжает вносить инновации в эту технологию, реагируя на вновь возникающие проблемы в сфере нелинейного моделирования и измерений, – сказал Джо Чивелло (Joe Civello), менеджер по САПР ADS компании Agilent. – Наше сотрудничество с компанией Thales доказало концептуальную верность этой технологии и дополнительно укрепило ее положение в качестве фактического промышленного стандарта".


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Поделиться:
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.