English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(536)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keitley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

Компания Keitley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

27.08.2008

Компания Keitley Instruments, лидер в создании решений в области измерительной техники, объявила о получении престижной награды журнала Semiconductor International «Лучший продукт по мнению редактора» за свою систему измерения полупроводников 4200-CVU, предназначенной для ускорения и облегчения C-V измерений (снятия вольт-фарадных характеристик).

Журнал проводит ежегодные номинации «найти и наградить продукты, созданные компаниями, показывающими непревзойденный уровень мастерства» в индустрии полупроводников.

«C-V измерения  становятся все более важной частью при исследовании и разработке полупроводников», - заявил Марк Хоерстен (Mark Hoersten), вице-президент по развитию бизнеса компании Keithley. «Модель 4200-CVU – это быстрый и простой в использовании измерительный инструмент, который жизненно необходим для исследователей и разработчиков, использующих новые материалы полупроводников для электронных устройств нового поколения, таких, как Смарт-фоны, лэптопы, ноутбуки и др.».

Церемония награждения прошла в середине июля в рамках Западно-торговой выставки SEMICON в Сан-Франциско.

О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
14.04.1629
День рождения