English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Keysight представляет систему тестирования собранных печатных плат с существенным распараллеливанием для обеспечения максимальной производительности при минимальных габаритных размерах

Keysight представляет систему тестирования собранных печатных плат с существенным распараллеливанием для обеспечения максимальной производительности при минимальных габаритных размерах

17.03.2021

Компания Keysight Technologies, Inc. представила новую систему тестирования собранных печатных плат с существенным распараллеливанием, i7090. Это новая категория автоматизированного оборудования, предназначенное для параллельного тестирования мультиплицированных собранных печатных плат (PCBA), позволяющая достигнуть высокой пропускной способности тестирования и снизить время выходя изделия на рынок, а также сократить издержки производства.

Системы внутрисхемного контроля, представленные на данный момент на рынке, поддерживают до 4 параллельных измерительных модулей. При увеличении объемов производства заказчики вынуждены проводить тестирование, приобретая большее количество систем, что влечет за собой инфраструктурные затраты и затраты на масштабирование, увеличение необходимой площади для размещения оборудования, а также дополнительные трудозатраты на их поддержку и техническое обслуживание.

Новая система внутрисхемного контроля с существенным распараллеливанием от Keysight поддерживает работу до 20 измерительных модулей. Для расширения возможностей внутрисхемного контроля система поддерживает подключение измерительной техники стандарта PXI. В результате конфигурация системы обладает гибкостью и позволяет сократить общие вычислительные затраты. Поддержка программного обеспечения Keysight OpenTAP позволяет использовать открытые платформы для интеграции дополнительного оборудования. По мере необходимости пользователи могут масштабировать ресурсы системы при помощи расширяемых инструментов и дополнительных плат.

Основные преимущества новой системы i7090 от Keysight:

  • 20 параллельных измерительных модулей обеспечивают гибкую конфигурацию и масштабируемость системы, а также возможность выполнения тестирования нескольких плат одновременно.
  • Малые размеры (ширина всего лишь 600 мм) экономит место, а распараллеливание сокращает время тестирования
  • Производство крупных и сверх-крупных серий продукции сокращает финансовые вложения в систему при сохранении необходимого времени тестирования.
  • Тестирование без подачи питания и безвекторные технологии контроля vectorless test extended performance (VTEP) снижают затраты на производство тестового адаптера и расширяют тестовое покрытие
  • Интеграция измерительных инструментов при помощи ПО Keysight OpenTAP и поддержка приборов стандарта PXI как Keysight, так и сторонних для эффективных функциональных испытаний
  • Поддержка разноплатформенных инструментов для интеграции функционального контроля и установка их в стандартный шкаф для оборудования шириной 48 см
  • Встроенная функция программирования обеспечивает параллельное внутрисистемное программирование по 160 каналам, увеличивая производительность системы.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств