EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Двухдневная международная конференция Agilent Technologies

Двухдневная международная конференция Agilent Technologies

20.09.2010

Компания Agilent Technologies 20 и 21 сентября 2010 г. проводит двухдневную пресс-конференцию, в Стамбуле (Турция). На пресс-конференцию приглашены 40 журналистов из Европы, в том числе 10 журналистов из России. Аналогичное мероприятие проходило 2 года назад в Риме (Италия), но на конференцию в 2008 году российских журналистов не приглашали.

На пресс-конференции будет представлена новая продукция компании, также будут представлены самые новые технические достижения в области контрольно-измерительного оборудования. Причем вся двухдневная работа конференции основана на возможности личного общения с руководством компании Agilent Technologies.

Среди участников пресс конференции:

Бенуа Нил (Benoit Neel) – Вице-президент и Генеральный менеджер по деятельности в европейском, средне-восточном и африканском регионах, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Бенуа Нил (Benoit Neel) – Вице-президент и Генеральный менеджер по деятельности в европейском, средне-восточном и африканском регионах, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Бор-Чун Гуи (Bor Chun, Gooi) – Старший менеджер департамента приборов общего назначения, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Бор-Чун Гуи (Bor Chun, Gooi) – Старший менеджер департамента приборов общего назначения, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Джей Александр (Jay Alexander) – Вице-президент и Генеральный менеджер подразделения цифровой осциллографии, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Джей Александр (Jay Alexander) – Вице-президент и Генеральный менеджер подразделения цифровой осциллографии, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Среди основных тем пресс-конференции следует выделить:

  • Высококачественные осциллографы: навстречу новым горизонтам
  • Почему и как применяются Х-параметры в тестировании РЧ элементов
  • Последние изменения в разработке и отладке встраиваемых цифровых систем
  • Новое поколение портативных тестеров
  • Основные направления в тестировании оборудования беспроводных сетей

Большинство представляемых новинок должны стать достоянием общественности после 28 сентября, поэтому, мы представим эти новинки на страницах и на сайте нашего журнала в октябре – ноябре 2010 года. 



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.