English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(645)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(540)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(118)
Новости Росстандарта(147)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Приборы компании Keithley Instruments для исследования полупроводниковых приборов и систем

Снятие входных, выходных и передаточных характеристик полупроводниковых приборов и экстракция из них электрофизических параметров является одной из важнейших и широко распространенных задач в исследовании, разработке и производстве полупроводниковых приборов и микросхем. Данная задача требует одно- и двух-канальных прецизионных источников и измерителей напряжения и тока, работающих по согласованной программе измерений. Традиционно такие приборы называются характериографами, т.е. приборами для построения электрических характеристик. В настоящее время одним из самых известных производителей подобного оборудования является американская компания Keithley Instruments. Она выпускает многофункциональный модульный характериограф — модель 4200-SCS, обеспечивающий профессиональное снятие вольтамперных, вольтфарадных и импульсных характеристик полупроводниковых приборов.

Автор(ы):  Афонский А.А. / Дьяконов В.П.
Номер журнала:  КИПиС 2009 № 1
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
06.05.1896
День рождения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.