|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар «Тестирование параметров материалов и полупроводниковых приборов с помощью программных и аппаратных решений Keysight Technologies, Cascade Microtech, Maury Microwave»
В конце мая 2015 г. компания Keysight Technologies, совместно с компаниями Cascade Microtech и Maury Microwave, провела в Москве двухдневный семинар, посвященный тестированию параметров материалов и полупроводниковых устройств. Keysight является одним из лидеров в этом направлении и практически единственной компанией, готовой представить широчайший ассортимент решений для данной отрасли промышленности.
Номер журнала: КИПиС 2015 № 4 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
09.12.1883
Родился советский ученый, механик, специалист в области механики и гидродинамики
|