![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
Компания Keysight Technologies продемонстрировала новейшие решения для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе
Компания Keysight Technologies продемонстрировала широкий диапазон решений для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе 2015, которая прошла в Париже с 8 по 10 сентября.
Специалисты Keysight продемонстрировали новейшие высокопроизводительные аппаратные и программные решения. Это именно те инструменты, которые нужны современным инженерам для тщательного проектирования, тестирования и измерения параметров компонентов, применяемых в радиолокационных системах, антеннах и беспроводных устройствах следующего поколения.
Номер журнала: КИПиС 2015 № 5 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Свежий номер
События из истории измерений
|
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |