English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(561)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(651)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(122)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Передовые измерительные технологии для прикладных задач. Семинар Keysight Technologies

12 октября 2016 г. компания Keysight Technologies провела вторую часть цикла семинаров «Основы измерений», на этот раз темы докладов были посвящены измерительным технологиям для прикладных задач. Для удобства участников в рамках семинара одновременно проводилось 5 параллельных секций, в рамках которых были представлены 14 тем. Каждый участник мог выбрать сам, какие именно темы представляют для него наибольший интерес, и в течение дня мог посетить только интересующие его модули программы.

Номер журнала:  КИПиС 2016 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.