EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости из Силиконовой долины

2-5 Мая 2011 г. в Силиконовой долине в Сан Хосе (San Jose, Silicone Valley, California, USA) прошла выставка и конференция Embedded Systems Conference.

ESC объединяет крупнейшие сообщества инженеров, разработчиков, технологов, руководителей бизнеса и поставщиков материалов и оборудования в одном месте, что по праву делает ее ведущим событием мировой индустрии электроники. Эта выставка дает возможность не только для демонстрации новых возможностей встраиваемых систем, но и для десятка выступлений специалистов, обучения и тренингов.

Из данной статьи Вы узнаете о самых интересных моментах мероприятия.


Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала: КИПиС 2011 № 3
Читать в PDF: Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.