EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Итоги конкурса Best in Test 2014

29 января в рамках выставки DesignCon 2014 прошла церемония награждения победителей престижного конкурса Best in Test, который ежегодно проводится журналом Test & Measurement World, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение прошло в выставочном центре Santa Clara Convention Center (Санта-Клара, штат Калифорния, США).
В этом году, впрочем, как и всегда, претендентов на звание лучшего из лучших было очень много. Их основные направления различались, оборудование было специально разработано для определённых областей промышленности, и, тем не менее, их объединяло одно — стремление стать победителем и завоевать всемирное признание.

Номер журнала: КИПиС 2014 № 1
Читать в PDF: Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.