EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания Agilent Technologies представляет новую платформу IC-CAP для измерения характеристик и создания библиотек моделей устройств

Компания Agilent Technologies представляет новую платформу IC-CAP для измерения характеристик и создания библиотек моделей устройств

14.06.2013

Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новой версии своей программной платформы для моделирования устройств IC-CAP.

С выпуском САПР IC-CAP 2013.01 компания Agilent внесла существенные улучшения в свою основную платформу для моделирования высокочастотных устройств. Одним из ключевых улучшений является готовое решение для экстракции модели Angelov-GaN – стандартной компактной модели полупроводниковых приборов на основе нитрида галлия.

Нитрид-галлиевые полупроводниковые приборы широко применяются в современных ВЧ усилителях мощности и в автомобильной электронике. Моделирование таких устройств связано с определенными трудностями из-за влияния захвата зарядов и тепловых эффектов на электрические характеристики прибора. В качестве первого приближения при моделировании нитрид-галлиевых приборов использовались существующие модели на основе арсенида галлия (GaAs), но они оказались недостаточно точными. Модель Angelov-GaN, созданная профессором Ангеловым в Технологическом университете Чалмерса, быстро завоевала популярность в качестве удачного решения этой проблемы.

Модуль Agilent W8533 для экстракции моделей Angelov-GaN, входящий в состав САПР IC-CAP, разработан в сотрудничестве с промышленными партнерами и проверен на реальных производственных условиях. Он предлагает специальную программную среду, позволяющую выполнять необходимые измерения и экстракцию модели Angelov-GaN. Модуль поддерживает анализаторы цепей Agilent Technologies, которые используются для измерения S-параметров. Удобный интерфейс позволяет выполнять пошаговую экстракцию параметров модели. Готовая методика позволяет быстро начать моделирование нитрид-галлиевых приборов. Кроме того, все параметры модуля являются настраиваемыми, что позволяет адаптировать его к различным производственным технологиям, использующим GaN. Моделирование выполняется в САПР ADS.

Кроме того, IC-CAP 2013.01 предлагает новую среду программирования Python, которая до 100 раз ускоряет выполнение таких типовых задач, как экстракция параметров, анализ данных, управление приборами и интерфейсами. Она обеспечивает лучшую организацию кода и поддерживает широкий набор библиотек для математических расчетов, управления приборами и статистического анализа. Благодаря IC-CAP Python пользователи могут эффективнее разрабатывать свои программы. Программы на языке Python совместимы с существующими программами, гарантируя совместимость с текущими проектами IC-CAP.

«Являясь ведущим поставщиком решений для измерения характеристик и моделирования ВЧ устройств, компания Agilent продолжает вносить существенные усовершенствования в САПР IC-CAP, – сказал Роберто Тинти (Roberto Tinti), менеджер по средствам моделирования компании Agilent EEsof EDA. – Эта версия знаменует важную веху развития, поскольку Python существенно расширяет возможности обучения и позволяет использовать IC-CAP с максимальной эффективностью. Благодаря нашему модулю для экстракции моделей Angelov-GaN, мы сохраняем лидирующее положение в области высокочастотного моделирования».

Другие новые возможности САПР IC-CAP 2013 .01 включают поддержку симуляторов Smartspice и измерение компрессии динамического диапазона и двухтональной интермодуляции с помощью анализатора цепей Agilent PNA-X. Эта возможность играет ключевую роль, поскольку измерение характеристик нелинейных устройств очень важно для проверки точности модели в реальных приложениях. Другой компонент платформы – IC-CAP WaferPro (мощное решение для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах) – тоже дополнен функциями, повышающими удобство работы и улучшающими интерфейс пользователя, что облегчает разработку процесса тестирования.

О САПР Agilent IC-CAP

САПР Agilent IC-CAP – это программное обеспечение для моделирования компонентов, предоставляющее разработчику мощные инструменты для описания и анализа параметров полупроводниковых приборов. Обеспечивая эффективную и точную экстракцию параметров моделей активных компонентов и схем, IC-CAP решает многочисленные задачи моделирования, включая управление контрольно-измерительными приборами, сбор данных, графический анализ, моделирование и оптимизацию. IC-CAP используется при разработке и производстве интегральных схем для расчёта параметров технологических процессов.

САПР IC-CAP 2013.01 можно загрузить по ссылке www.agilent.com/find/eesof-iccap-downloads-and-trials. Дополнительная информация о IC-CAP и модуле Angelov-GaN приведена на страницах www.agilent.com/find/eesof-iccap2013.01 и www.agilent.com/find/eesof-iccap-angelov-gan, соответственно.

Agilent Technologies


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.