English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(643)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар Keysight Technologies «Основы измерений параметров материалов и устройств»

Семинар Keysight Technologies «Основы измерений параметров материалов и устройств»

17.07.2017

27 июля в Нижнем Новгороде компания Keysight Technologies проведет семинар «Основы измерений параметров материалов и устройств»

В течение прошедшего столетия ученые обнаружили, что материалы — металлы, полупроводники, органические материалы (например, полимеры) и полупроводниковые соединения — обладают самыми разнообразными исключительно полезными свойствами. Как ожидается, в ближайшие сто лет новые и перспективные материалы, такие как оксидные полупроводники, углеродные нанотрубки и графен, продемонстрируют еще более значительные преимущества. Компания Keysight Technologies разрабатывает контрольно-измерительные решения, которые способны удовлетворить вновь возникающие потребности ученых и инженеров в тестировании таких материалов. Специалисты компании расскажут о наиболее перспективных технологиях и о том, что Keysight может предложить для решения большинства чрезвычайно сложных измерительных задач.

В рамках семинара будут рассмотрены следующие темы:

Тема 1: Тестирование параметров материалов: проблемы и решения

Тестирование свойств материалов представляет собой очень сложную задачу в связи с тем, что каждый материал является уникальным с точки зрения его электрических, оптических и структурных характеристик. Эти уникальные свойства позволяют различным устройствам и компонентам, таким как солнечные элементы, датчики, преобразователи, логические интегральные схемы, запоминающие устройства, межсоединения, дисплеи, излучатели, герметизирующие материалы, выполнять заданные функции. В этом докладе будут рассмотрены традиционные методы измерений электрических свойств различных материалов и представлены приборы и решения Keysight для тестирования параметров материалов.

Тема 2: Перспективные решения для измерений импеданса

Данный доклад посвящен основным методам измерений импеданса и примерам их использования. В нем также рассматриваются методики точных измерений импеданса различных компонентов, таких как конденсаторы, катушки индуктивности и трансформаторы. Вы получите представление о причинах возникновения ошибок измерений, источниках погрешностей измерений и о способах коррекции этих ошибок. Обсуждение достоинств и недостатков различных применяемых на практике методов измерений поможет вам выбрать подходящий прибор для решения конкретных измерительных задач.

Тема 3: Определение характеристик материалов и устройств в диапазоне частот до 1,5 ТГц

Точное определение электромагнитных характеристик различных материалов в СВЧ- и миллиметровом диапазоне частот дает инженерам важные данные для разработки, моделирования, исследования, производства и контроля качества материалов и устройств. В этом докладе будут рассмотрены методы, используемые для измерения диэлектрических свойств твердых и жидких веществ и обсуждены критерии, которые нужно учитывать при выборе метода измерений. Особое внимание будет уделено тем методам, которые используются для измерения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь твердых и жидких диэлектриков в диапазоне частот от 100 МГц до 1,1 ТГц.

Тема 4: Определение электрических характеристик устройств на основе GaN и SiC с помощью анализатора мощных устройств/характериографа Keysight B1505A

Быстрое совершенствование технологий производства современных силовых устройств приводит к столь же быстрому устареванию обычного измерительного оборудования. Особую важность приобретает тестирование высоких значений тока проводимости (более 1000 А), токов утечки в суб-пикоамперном диапазоне, а также определение напряжения пробоя до 10 кВ. В этом докладе будут проанализированы стандартные методы измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик силовых устройств на основе нитрида галлия (GaN) и карбида кремния (SiC) с помощью анализатора мощных устройств/характериографа Keysight серии B1505A.

Подробности об условии участия в семинаре можно найти на сайте Keysight по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств