English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Преимущества технологии IR-Fusion™

Специалисты по термографии всегда нуждались в инфракрасной камере, которая бы позволяла одновременно создавать изображения с большим полем обзора (FOV) и с высоким разрешением. Инфракрасные камеры, обладающие данными характеристиками, как правило слишком дорогостоящи для большинства областей применения. Более дешевый способ обеспечить обе характеристики в одной камере — совместить обычное видимое изображение с большим полем обзора и инфракрасное изображение с меньшем полем обзора. Основное преимущество такой комбинации заключается в том, что специалисты могут точно идентифицировать инфракрасные проблемные участки на обычном видимом изображении. Промышленная камера с технологией IR-Fusion была выпущена на рынок в мае 2006 г. Данная статья описывает несколького примеров из термографии, в которых очевидны преимущества этой технологии.

Номер журнала:  КИПиС 2008 № 3
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии