English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости компаний

RSS

13.04.2021 | 46
Новое решение Keysight для сравнительного анализа 5G-сетей с целью обеспечения высококачественного обслуживания конечных пользователей Компания Keysight Technologies, Inc. представила новое решение Nemo Backpack Pro, предназначенное для тестирования сетей 5G New Radio (NR) с целью обеспечения высококачественного обслуживания (QoE) конечных пользователей на производственных объектах, в аэропортах, на стадионах и в прочих закрытых помещениях.

09.04.2021 | 58
Компания Keysight на выставке ElectronTechExpo 2021 Компания Keysight Technologies приглашает посетить свой стенд на выставке ElectronTechExpo 2021, которая пройдет с 13 по 15 апреля в Москве, МВЦ "Крокус Экспо". Вы сможете встретиться со специалистами компании и лично убедиться в уникальных возможностях измерительных решений Keysight.

23.03.2021 | 127
Вебинар «Современные решения для отладки PCIe» компании Keysight Компания Keysight Technologies приглашает присоединиться к вебинару 30 марта 2021 г., в ходе которого будут рассмотрены основные решения для анализа как на физическом, так и на логическом уровне для существующих и перспективных задач. Несмотря на активное развитие в мире PCIe Gen 5 и даже Gen 6, основной упор вебинара будет сделан на приближенных к российским реалиям задачах.

17.03.2021 | 137
Keysight представляет систему тестирования собранных печатных плат с существенным распараллеливанием для обеспечения максимальной производительности при минимальных габаритных размерах Компания Keysight Technologies, Inc. представила новую систему тестирования собранных печатных плат с существенным распараллеливанием, i7090. Это новая категория автоматизированного оборудования, предназначенное для параллельного тестирования мультиплицированных собранных печатных плат (PCBA), позволяющая достигнуть высокой пропускной способности тестирования и снизить время выходя изделия на рынок, а также сократить издержки производства.

11.03.2021 | 365
Форум 5G. 5G в России: как создается сеть и новая инфраструктура Компания Keysight Technologies приглашает принять участие в Форуме 5G, который пройдет 17 марта 2021 г. Разрабатывая программу форума, специалисты Keysight постарались учесть все самые актуальные задачи и вопросы, которые стоят перед компаниями, занимающимися развертыванием инфраструктуры, разработками и тестированием компонентов и устройств для сетей 5G.

01.03.2021 | 208
Вебинар Keysight «Дискуссия IoT Tech Talk – Надежное соединение» Присоединяйтесь к экспертам Keysight на дискуссии о технологиях Интернета вещей, где они ответят на ваши вопросы, расскажут о том, что необходимо, чтобы ваше устройство не только отлично подключалось к сети, но и надежно работало в реальном мире. Дата и время мероприятия: 17 марта, 2021. 13:00 (по Москве).

25.02.2021 | 149
Законченное End-to-End решение для сетей Open RAN от Keysight подтверждает заявленные характеристики оборудования и обеспечивает инновации в секторе мультивендорных сетей 5G Компания Keysight Technologies, Inc. представила пакет законченных пользовательских решений, который позволяет поставщикам и мобильным операторам в экосистеме открытых сетей с радиодоступом (O-RAN) проводить верификационные проверки совместимости, эксплуатационных характеристик, соответствия нормативным требованиям и безопасности мультивендорных систем 5G на основе стандартных интерфейсов O-RAN.

15.02.2021 | 136
Keysight приглашает на онлайн-семинар «Современные решения для тестирования производительности устройств 5G» Компания Keysight приглашает посетить онлайн-семинар «Современные решения для тестирования производительности устройств 5G», который пройдет 18 февраля 2021 г., в 12:00 (по Москве). Изучите новые решения для тестирования устройств 5G перед их выводом на рынок. Проверяйте производительность вашего устройства на соответствие функциональным ключевым показателям эффективности (KPI), управлению формирования луча, и производительности антенны MIMO в различных условиях пространственного замирания сигналов и воспроизведению записанных полевых сценариев в лабораторных условиях.

12.02.2021 | 131
Вебинар Keysight «Как создать базовую станцию 5G: от методологии O-RAN к производительности всей инфраструктуры» Компания Keysight приглашает 16 февраля 2021 г. присоединиться к онлайн-семинару, на котором технический эксперт Keysight Technologies по развитию решений 5G в России расскажет, как при помощи различных компонентов для End-to-End тестирования возможно проводить испытания базовых станций gNB, начиная с радиотракта и вплоть до уровня приложений. Вы ознакомитесь с методологией тестирования для проверки сквозной производительности сетей радиодоступа (RAN) при помощи имитации реального сетевого трафика через радио интерфейсы и fronthaul-интерфейсы O-RAN.

03.02.2021 | 148
Keysight расширяет свое портфолио источников/измерителей для испытательных применений, требующих высокой точности, высокого разрешения и универсальности измерений Компания Keysight Technologies, Inc. объявила о выпуске трех новых источников/измерителей SMU (SMU) для испытательных применений, требующих высокой точности, высокого разрешения и универсальности возможностей измерения. В том числе для определения вольтамперных характеристик (I-V) полупроводниковых устройств, и их тестирования на надежность, а также для прочих нелинейные устройств и материалов.


Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений