Новости КИПиС

31 августа 2010 г. Заместитель директора по науке ФГУП "ВНИИМС" Яншин В.Н. отмечает свой день рождения. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» поздравляет Владимира Николаевича с этой знаменательной датой!

В Физическом институте им. П.Н. Лебедева РАН (ФИАН) разработан передвижной озонометр миллиметрового диапазона радиоволн для мониторинга вертикального распределения содержания озона в атмосфере. Этот прибор перспективен для использования в наземной сети станций мониторинга состава атмосферы.

С 26 по 28 октября 2010 г. в ЦВК «Экспоцентр» (г. Москва) пройдет конгрессно-выставочное мероприятие «Российская неделя электроники». Мероприятие включает в себя 7 выставок и более 20 конференций и семинаров по разработке, производству, поставке компонентов и модулей радиоэлектронной аппаратуры, подготовке инженерных кадров и продвижению продукции радиоэлектронного комплекса на отечественном и зарубежном рынках.

Ведущие инженеры и программисты электронной отрасли России, топ-менеджеры компаний, представители научного сообщества, соберутся в Петербурге 20 и 21 сентября на 2-й Международной научно-практической конференции по вопросам электроники и IT технологиям – "Электроника России: Стратегия возрождения" (CivEl 2010).

18 августа 2010 г. Ивану Васильевичу Осоке, начальнику отдела во ФГУП «ВНИИМС», исполняется 55 лет. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы от всей души поздравляет юбиляра!

15 августа Владимир Николаевич Крутиков, заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, отмечает свой день рождения. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» поздравляет Владимира Николаевича с этой знаменательной датой! Доктор физико-математических наук, автор более 60 научных работ, Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники, Владимир Николаевич внес неоценимый вклад в развитие науки в целом и в область стандартизации в частности.

На завершающую стадию вышел проект по разработке методик измерения эффективности органических солнечных фотоэлементов, созданных с помощью нанотехнологий. Работу ведут специалисты Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ) совместно с исследователями из Международного лазерного центра МГУ им. М.В. Ломоносова, Физического факультета МГУ и Физического института РАН им. П.Н. Лебедева (ФИАН). Эталонный полимерный солнечный фотоэлемент будет первым в нашей стране.

Вчера, 5 августа 2010 г., завершила свою работу NIWeek 2010 – ведущая конференция и выставка по системам графического проектирования. Подведем итог наиболее ярких событий конференции.

4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы, касающиеся стратегии развития компании и продвижения продукции на российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI Express и разработки новых продуктов. Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition).

Во вторник, 3 августа, состоялся первый день ведущей конференции и выставки по системам графического проектирования NIWeek 2010. Были представлены лучшие разработки National Instruments в этом году, среди них: векторный анализатор цепей на базе PXI, новая версия LabView и новая платформа сбора данных с интерфейсом Ethernet. Вечером, в банкетном зале отеля «Four Sesons» состоялось награждение лучших разработок на базе программного обеспечения NI.