English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keysight серьёзно нацелена на российский рынок

Осень 2014 года отличилась богатым урожаем новинок в контрольно-измерительной отрасли. Так, компания Keysight — один из мировых лидеров промышленности — выпустила сразу несколько новейших устройств, о преимуществах которых поспешила рассказать на пресс-конференции. Мероприятие прошло в офисе компании 21 октября 2014 г. Участников пресс-конференции поприветствовала Галина Смирнова — Генеральный директор российского представительства Keysight, которая кратко рассказала о последних новостях из жизни компании и планах на будущее. Хотя компания стала полностью независимой в ноябре 2014, её работа началась гораздо раньше. Начиная с 1 августа 2014 она функционировала в качестве дочернего предприятия Agilent Technologies. Поэтому, конечно, на момент встречи у Keysight уже было подготовлено множество интересных сообщений для своих слушателей.

Номер журнала:  КИПиС 2014 № 6

Возврат к списку


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения