English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

В новый год с новыми силами. Пресс-конференция Keysight Technologies и представление новейших решений

Не успел закончиться первый месяц нового 2015 г., как компания Keysight Technologies уже пригласила журналистов к себе в офис на первую в этом году пресс-конференцию, которая прошла 27 января. Это могло означать только одно — у Keysight появились интереснейшие новинки, о которых специалисты компании поспешили сообщить. Программа была очень насыщенна, так как на момент встречи с представителями СМИ у Keysight уже были готовы презентации сразу о нескольких инновационных разработках. Специально на пресс-конференцию приехал Бенуа Нил (Benoit Neel) — Вице-президент и генеральный менеджер Keysight по региону EMEA.

Номер журнала:  КИПиС 2015 № 1

Возврат к списку


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения