English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(538)
Новости Anritsu(116)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(621)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(87)
Новости Rohde & Schwarz(524)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(106)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Компания Keysight Technologies продемонстрировала новейшие решения для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе

Компания Keysight Technologies продемонстрировала широкий диапазон решений для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе 2015, которая прошла в Париже с 8 по 10 сентября. Специалисты Keysight продемонстрировали новейшие высокопроизводительные аппаратные и программные решения. Это именно те инструменты, которые нужны современным инженерам для тщательного проектирования, тестирования и измерения параметров компонентов, применяемых в радиолокационных системах, антеннах и беспроводных устройствах следующего поколения.

Номер журнала:  КИПиС 2015 № 5

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ