English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(504)
Новости Anritsu(110)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(580)
Новости Metrel(16)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(481)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keysight Technologies продемонстрировала новейшие решения для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе

Компания Keysight Technologies продемонстрировала широкий диапазон решений для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе 2015, которая прошла в Париже с 8 по 10 сентября. Специалисты Keysight продемонстрировали новейшие высокопроизводительные аппаратные и программные решения. Это именно те инструменты, которые нужны современным инженерам для тщательного проектирования, тестирования и измерения параметров компонентов, применяемых в радиолокационных системах, антеннах и беспроводных устройствах следующего поколения.

Номер журнала:  КИПиС 2015 № 5

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.10.1804
День рождения