English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(449)
Новости Anritsu(98)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(526)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(254)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(409)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(76)
Новости Росстандарта(102)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Будущее начинается сегодня! Международная выставка CES 2016

С 6 по 9 января уже наступившего 2016 г. в Лас-Вегасе, США, штат Невада, прошла одна из крупнейших выставок потребительской электроники — CES 2016! Выставка проходит ежегодно и всегда удивляет посетителей своим размахом, обилием демонстрируемых технологий, разработок и количеством круглых столов и сессий, которые проходят ежедневно. Статистические данные шоу этого года по-настоящему шокируют! Так, в выставке приняло участие более 3800 экспонентов, которые демонстрировали свыше 20000 разработок на выставочной площади в 750 тыс. кв. м. Количество посетителей перешло за 170000, около 50000 из них приехали из-за рубежа специально, чтобы посетить CES.

Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2016 № 1
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств