English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Форум «Промышленная политика, техническое регулирование и контроль качества»

С 21 по 25 марта в Москве прошла «IX Неделя российского бизнеса 2016». Одним из ключевых и наиболее значимых мероприятий её программы стал Форум «Промышленная политика, техническое регулирование и контроль качества», который прошёл 22 марта в самом сердце Москвы, в отеле «Ритц-Карлтон». Основными вопросами для обсуждения стал принятый в 2015 и реализующийся закон «О стандартизации в Российской Федерации», возможности, которые он открывает для промышленности, повышение эффективности работы на площадке ЕЭК и все более остро стоящая тема недобросовестной конкуренции, фальсификата, контроля качества товаров и услуг.

Номер журнала:  КИПиС 2016 № 2

Возврат к списку


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений