English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(454)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(73)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(106)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Обзор выставки Электроника-2008

11-14 ноября в Мюнхене успешно прошла выставка Электроника-2008 (www.electronica.de). В ней приняли участие 2786 компаний со всего мира, причем 267 из них из Китая.

Всего Электронику-2008 в этом году посетило 73000 человек, при этом граждан из центральной и восточной Европы, Тайваня, Бразилии, Южной Африки и России было больше, чем в предыдущие годы. Однако, по сравнению с выставкой, прошедшей в 2006 году, значительно уменьшилось число посетителей из Америки, Великобритании, Франции и Израиля. Скорее всего, это связано с текущей мировой экономической ситуацией, из-за которой многие компании сокращают затраты на зарубежные поездки.

Кстати, в Германии действует программа по поддержке малого бизнеса. В рамках этой программы немецкое федеральное министерство экономики и технологии предоставляет поддержку малым предприятиям Германии, участвующим в выставке Электроника-2008. Каждому участнику этой программы предоставляется сумма в размере 7500 евро. Целью этой программы немецкого правительства является предоставление малому бизнесу платформы для установления международных контактов, а также усиление позиции Германии, как страны известной своими инновациями.

Подробный обзор выставки, с описанием наиболее интересных новинок контрольно-измерительной индустрии, представленных на выставке, можно прочитать на нашем сайте в разделе «Обзоры зарубежных выставок»: Electronica-2008.


Автор(ы):  Афонский А.А. / Афонская Т.Д.
Номер журнала:  КИПиС 2008 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала