English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новое поколение лабораторных программируемых источников питания АКТАКОМ. LXI-стандарт

Организация и построение измерительных систем на базе персонального компьютера играет большую роль, т.к. добавляет функциональность, которая при автономном использовании была бы недостижима. Наряду с совершенствованием аппаратной части источников питания развиваются и совершенствуются и средства, используемые для организации связи с компьютером.

Одним из таких средств, стало появление нового стандарта LXI. Все это не могло не повлиять на ассортимент измерительной лаборатории, предлагаемый в модельном ряду современных средств измерений AKTAKOM. Недавно, ассортимент продукции AKTAKOM пополнила серия двухканальных источников питания ATH-733x. Отличительной особенностью данных источников питания является возможность удаленного управления через интерфейсы USB 1.1 и LAN.


Автор(ы):  Афонский А.А. / Жуковский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2010 № 1
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии