English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(538)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Обзор выставки "ChipEXPO-2006"

С 19 по 21 сентября 2006 года в Москве в Экспоцентре на Красной Пресне успешно прошла 4-я международная выставка по электронике, оборудованию, компонентам и технологиям «ChipEXPO-2006». Организатором выставки выступила компания «ЧипЭКСПО» при поддержке Министерства промышленности и энергетики РФ, Министерства экономического развития и торговли РФ, Правительства Москвы, Федерального агентства по промышленности и Торгово-промышленной палаты Москвы.

Динамично развиваясь, выставка привлекла к совместной работе руководителей и специалистов российских и зарубежных компаний в области электроники, представителей министерств и федеральных агентств, общественных организаций, журналистов ведущих отраслевых и массовых изданий.

Читайте подробный обзор выставки в pdf-версии статьи, доступной по ссылке ниже.


Номер журнала:  КИПиС 2006 № 5
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения