English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(454)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(73)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(106)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Выставка CES — ваш проводник в мире передовых технологий!

C 5 по 8 января наступившего 2017 года в США, штате Невада, прошла крупнейшая международная выставка CES. В период её работы Лас-Вегас превратился в центр современных технологий, инноваций и решений, способных по-настоящему удивить даже самых убеждённых скептиков. 2017 год особенно примечателен для CES — в этом году выставка отметила полувековой юбилей, ровно 50 лет!

Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2017 № 1

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала