English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости из Силиконовой долины

2-5 Мая 2011 г. в Силиконовой долине в Сан Хосе (San Jose, Silicone Valley, California, USA) прошла выставка и конференция Embedded Systems Conference.

ESC объединяет крупнейшие сообщества инженеров, разработчиков, технологов, руководителей бизнеса и поставщиков материалов и оборудования в одном месте, что по праву делает ее ведущим событием мировой индустрии электроники. Эта выставка дает возможность не только для демонстрации новых возможностей встраиваемых систем, но и для десятка выступлений специалистов, обучения и тренингов.

Из данной статьи Вы узнаете о самых интересных моментах мероприятия.


Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2011 № 3
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик