English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Юбилейные выставки «ЭлектронТехЭкспо» и «ЭкспоЭлектроника»!

С 25 по 27 апреля 2017 г. в МВЦ «Крокус Экспо» прошла юбилейная, 15-я по счету, выставка «ЭлектронТехЭкспо» — международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности. Выставка традиционно прошла параллельно с «ЭкспоЭлектроникой» — международной выставкой электронных компонентов, модулей и комплектующих — которая тоже стала в этом году юбиляром и отметила 20 лет работы на российском рынке!

Номер журнала:  КИПиС 2017 № 3

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик