English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(522)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(600)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(497)
Новости Tektronix(202)
Новости Texas Instruments(20)
Новости Yokogawa(91)
Новости Росстандарта(136)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

XIII Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения — основы качества и безопасности»

В канун празднования Всемирного дня метрологии, который ежегодно отмечается 20 мая, с 17 по 19 мая прошёл XIII Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения — основы качества и безопасности». В этом году Форум был проведён на новой, современной площадке ВДНХ — в Павильоне 75. В рамках Форума прошли сразу несколько крупных выставок, занявших общую площадь в 6000 кв.м., а также Всероссийский съезд метрологов и приборостроителей…

Номер журнала:  КИПиС 2017 № 3

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 1 Февраль 2020
КИПиС 2020 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала