English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

50-летний юбилей национальной метрологической системы США

21-25 августа 2011 в Вашингтоне (Gaylord National Convention Center, National Harbor, MD, США) прошел международный симпозиум метрологов, который собрал более 2000 человек. Девиз симпозиума «50 лет: Размышляя о прошлом — смотрим в будущее». Обзор данного мероприятия также включает небольшое интервью Виктора Саприцкого, доктора технических наук, профессора, руководителя лаборатории фотометрии ВНИИОФИ.


Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2011 № 5
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.05.1783
Родился британский физик, электротехник и изобретатель