English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Выставка лабораторного оборудования Pittcon-2012

Pittcon это крупнейшая ежегодная международная конференция-выставка, посвящённая аналитической химии и прикладной спектроскопии. Количество посетителей выставки-конференции составило более 17,000 человек, которых приветствовали 941 экспонентов на 1,850 выставочных стендах. Насыщенная программа мероприятия этого года включала демонстрацию новейших разработок и устройств, многогранную техническую программу, представленную более чем 2000 презентациями, многочисленные краткие курсы повышения квалификации и встречи, позволяющие поделиться инновационными идеями с учёными со всего мира. Выставку посетили многочисленные сотрудники академий и государственных учреждений из 90 стран мира, специалисты, непосредственно работающие над распознанием, определением и анализом химических и биологических веществ и молекул. Участники выставки представляли собой самые различные слои промышленности, выставка Pittcon охватыватила всевозможные научные направления: фармакологию, организацию контроля качества воды и воздуха, безопасности продуктов питания, экологические предприятия по борьбе с биотерроризмом. В этом году мероприятие проходило 11-15 марта в Orange County Convention Center, Орландо, Флорида, США.

Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2012 № 2

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения