English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(530)
Новости Anritsu(113)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(609)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(78)
Новости Rohde & Schwarz(513)
Новости Tektronix(206)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(102)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар по осциллографии от Agilent Technologies

Как известно, семинар — это мероприятие, объединяющее любителей и профессионалов, которые обмениваются информацией, делятся опытом и знаниями. В переводе с латинского, семинар — это «школа». Именно такую «школу» организовала компания Agilent Technologies, признанный производитель контрольно-измерительного оборудования, 24 мая в московском бизнес-центре «Кимберли-Лэнд». Задачей организаторов семинара «Осциллография и цифровой анализ» было продемонстрировать целый ряд новинок контрольно-измерительных приборов и подробно рассказать об их многочисленных функциональных возможностях.

Автор(ы):  Боровская М.И.
Номер журнала:  КИПиС 2012 № 3

Возврат к списку


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.07.1904
День рождения одного из первых отечественных лауреатов Нобелевской премии