English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(509)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(587)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(487)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Выставка International CES 2014 — еще больше приложений для вашего смартфона!

Самая посещаемая выставка в ми- ре International CES проходила в Лас-Вегасе (штат Невада, США) с 7 по 10 января 2014 года. Выставка этого года прошла под девизом: «Чтобы еще предложить для вашего смартфона?». Идя навстречу пожеланиям клиентов, производители предлагают огромное количество различных применений для мобильных телефонов. Некоторые из них действительно очень полезны, некоторые забавны, а некоторые вызывают недоумение.

Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2014 № 1
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
09.12.1883
Родился советский ученый, механик, специалист в области механики и гидродинамики