English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(504)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(579)
Новости Metrel(16)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(73)
Новости Rohde & Schwarz(481)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Синергия двух выставок – ElectronTechExpo и ExpoElectronica!

С 15 по 17 апреля этого года в стенах выставочного комплекса «Крокус Экспо» прошли сразу две крупные международные выставки – 17-я Международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности ElectronTechExpo и 22-я Международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих ExpoElectronica. Выставки проходили в соседних залах и вкупе охватывали все направления электронной промышленности…

Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Афонский А.А. / Боровская М.И.
Номер журнала:  КИПиС 2019 № 3

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ