English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(410)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(499)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(236)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(376)
Новости Tektronix(176)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(67)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

КИПиС 2005 № 3

КИПиС 2005 № 3 Год: 2005
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
Содержание

Официальная хроника, новости от Iwatsu, Fluke, National Instruments, Keithley, Rohde & Shcwarz, Tektronix, AKTAKOM

Конкурс «Лучший отечественный измерительный прибор-2005»

Новости из Госстандарта России

Международный эталон килограмма «худеет»? (Исаев Л.К.)

Оценка соответствия и метрология. Дальнейшие направления развития (Кленовски П.)

На крыше дома твоего… (Лебедев О.В.)

Катастрофический феномен 1985-1986 гг.: подводная часть (Левин С.Ф.)

Стоимость построения измерительных систем в стандартах VXI и PXI. Мифы и реальность (Зайченко С.Н.)

Измерение основных параметров металлических кабелей связи приборами мостового типа (Усов Ю.А., Баталин М.Ю)

Обзор выставки «Связь-Экспокомм-2005» (Уткин А.Ю.)

Обзор выставки «ЭкспоЭлектроника-2005» (Зеленкова Е.Г.)


Назад в раздел
Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала