English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(567)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

КИПиС 1998 № 3

КИПиС 1998 № 3 Год: 1998
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Анализаторы спектра
Содержание

Новости от LeCroy, Wavetek, Chauvin Arnoux, Gould Nicolet, Tektronix, Fluke, National Instruments

Весь мир на "Связи" (Т.Д. Бондаренко)

Физические и инструментальные основы спектрального анализа (Г.А. Шаповалов)

Анализаторы спектра фирмы Tektronix (В.А. Куликов)

Портативный анализатор спектра Protek 3200 (И.В. Гордеев)

Фильтрация сигнала в цифровых Фурье-анализаторах спектра (В.А. Куликов)

Семинар-совещание ведущих специалистов метрологических служб отрасли "Связь" (Г.А. Бубук, Б.П. Хромой)

Comtek на красной пресне (Т.Д. Бондаренко)


Назад в раздел
Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.06.1623
День рождения
19.06.0240
до н.э.