English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(116)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(619)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(86)
Новости Rohde & Schwarz(522)
Новости Tektronix(210)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Акихико Огинума (Akihiko Oginuma)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Ускорение процесса тестирования за счет анализа джиттера задающего генератора в частотной области

Номер журнала: КИПиС 2008 № 4

В данной статье рассматривается роль задающего генератора и влияние джиттера задающего генератора на джиттер данных, и обсуждаются новые методы измерений с помощью нового программного обеспечения для прецизионного анализа джиттера задающего генератора Agilent E5001A, работающего на анализаторе источников сигнала E5052B. Обсуждаются также возможности измерений в реальном времени, ускоряющие процессы тестирования.

 

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений