English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(569)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Лапшина Т.В.


Книги этого автора



Статьи этого автора


"РАДЭЛ-2006" как отражение конъюнктуры рынка электроники и приборостроения

Номер журнала: КИПиС 2007 № 1

С 14 по 17 ноября 2006 г. в Санкт-Петербурге проходила крупнейшая в Северо-Западном регионе России VI промышленная специализированная выставка «Радиоэлектроника и приборостроение» («РАДЭЛ»).

 
Обзор выставки «MERATEK-2006»

Номер журнала: КИПиС 2006 № 3

С 16 по 19 мая 2006 года в Москве, в СК «Олимпийский», проходила 7-я Международная выставка MERATEK-2006 «Измерительные приборы и автоматизация». Выставка стала хорошей площадкой для общения деловых кругов, своеобразным индикатором эффективности развития российского приборостроения и расширения международных связей.

 

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть