English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Гуидо Шульце (Guido Schulze)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Тестирование устройств USB 2.0 с помощью цифровых осциллографов R&S®RTO

Номер журнала: КИПиС 2014 № 3

Протокол USB является одним из наиболее распространенных. Он предполагает три режима работы, отличающиеся скоростями передачи данных, составляющими 1,5, 12 или 480 Мбит/с. Для каждой скорости передачи установлены собственные испытания, совокупность которых обеспечивает качественный обмен данными между взаимодействующими устройствами. Для USB 2.0 разделяют тесты для режимов приема и передачи. В настоящей работе кратко рассматривается тест по маске передатчика USB 2.0 и показывается способ его выполнения с помощью осциллографов R&S RTO.

 

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"