English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(567)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(654)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(95)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(127)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Андреа Винчи (Andrea Vinci)

Менеджер отдела маркетинга, Tektronix/Keithley

Книги этого автора



Статьи этого автора


Решение проблемы высокой емкости соединений измерительной схемы при тестировании маломощных МОП-транзистров

Номер журнала: КИПиС 2020 № 4

Исследователи, ученые и инженеры сталкиваются с общими сложностями при внесении в отчёты точных электрических параметров таких полупроводниковых приборов, как специальные полевые нанотранзисторы. Более того, иногда им приходится доказывать, что они действительно способны контролировать эти параметры простым и воспроизводимым способом. Данная статья предлагает «Решение проблемы высокой ёмкости соединений измерительной схемы при тестировании маломощных МОП-транзисторов».

 

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.