English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(402)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(497)
Новости Metrel(5)
Новости National Instruments(231)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(55)
Новости Rohde & Schwarz(368)
Новости Tektronix(174)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(66)
Новости Росстандарта(82)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Джей-йон Чен (Jae-yong Chang)

Компания Agilent Technologies

Книги этого автора



Статьи этого автора


Осциллограф стандарта LXI повышает эффективность систем автоматического тестирования

Номер журнала: КИПиС 2006 № 6

В последние годы появился новый класс приборов для построения систем автоматического тестирования (Automatic Test Equipment, ATE). Он основан на технологии LAN (Ethernet). Стандарт LXI (LAN eXtensions for Instrumentation) представляет собой спецификацию на базе хорошо себя зарекомендовавших и широко распространенных стандартов для создания и настройки быстрых, эффективных и экономичных систем ATE. В этой статье рассказывается о том, какие преимущества дает использование в системах ATE осциллографов на базе стандарта LXI.

 

Свежий номер
№ 2 Апрель 2017
КИПиС 2017 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений