English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(475)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(546)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(69)
Новости Rohde & Schwarz(437)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(85)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Том Ольсен (Tom Ohlsen)

Компания Tektronix Inc., www.tek.com

Книги этого автора



Статьи этого автора


Упрощение сложных измерений с помощью источника-измерителя (SMU)

Номер журнала: КИПиС 2018 № 4

Когда речь заходит о контрольно-измерительных задачах, простота становится лучшим другом инженера, поскольку экономит ему время и снижает трудоёмкость, при этом позволяя получать более достоверные и точные результаты. Одним из приборов, способным максимально упростить многие широко распространённые измерения, является источник-измеритель (SMU), объединяющий в себе функции источника напряжения и тока, цифрового мультиметра и электронной нагрузки…

 

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.11.1711
Родился первый русский ученый-естествоиспытатель мирового значения, химик и физик