English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(635)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(142)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости

18.06.2008 | 2973
Семинар Fluke "Техническое обслуживание производства: Калибраторы процессов и Тепловидение" 18 июня 2008 г. в московской гостинице ЕКАТЕРИНА состоялся совместный практический семинар компании FLUKE и ICS Group, посвященный эффективному обслуживанию производства. Компания Fluke совместно со своими авторизованными дистрибьюторами провела в гг. Москва и Санкт-Петербург ряд бесплатных однодневных практических семинаров, посвященных эффективному обслуживанию производства.

18.06.2008 | 2973
Новый регистратор качества напряжения Fluke VR1710 Регистратор качества электроэнергии Fluke VR1710 представляет собой однофазное подключаемое устройство для регистрации параметров качества напряжения в сети, являясь чрезвычайно простым в использовании решением для обнаружения и записи проблем с качеством электроэнергии, обеспечивая быстрые действия и сокращение времени простоя оборудования.

17.06.2008 | 2913
National Instruments проводит очередную ежегодную конференцию NIWeek 2008 Компания National Instruments опубликовала программу мероприятий для конференции NIWeek - главного события в области измерений и автоматизации. Это событие привлекает более 3000 ведущих инженеров, преподавателей и ученых со всего мира. NIWeek 2008 является четырнадцатой по счету ежегодной конференцией компании. Она открывается 5 августа в конференц-зале Austin Convention Center в г. Остин (Техас). В течении трех дней будут проходить различные интерактивные технические секции, круглые столы, практические семинары и выставки, посвященные последним достижениям в сферах современных средств разработки, систем управления, автоматизации, производства и тестовых испытаний.

16.06.2008 | 3711
Новый пакет инструментов LabVIEW для тестирования приемных устройств GPS Компания National Instruments анонсировала выход набора инструментов для LabVIEW - NI GPS Toolkit, представляющего собой дополнение к среде графической разработки. Этот набор инструментов расширяет спектр функциональных возможностей платформы NI RF PXI и позволяет проводить симуляцию GPS-сигналов нескольких спутников. Используя программное обеспечение NI LabVIEW для генерации радиосигналов и симуляции сигналов 12 спутников (формируя последовательность навигационных C/A кодов в полосе частот L1), инженеры могут измерять чувствительность приемного устройства, регистрировать время захвата (TTFF) и определять точность позиционирования при помощи генератора векторных сигналов NI PXIe-5672 RF.

09.06.2008 | 2991
Measurement Studio 8.5 от National Instruments Компания National Instruments объявила о выходе набора инструментов Measurement Studio 8.5, повышающего функциональность новейшей среды разработки от Microsoft с помощью полного набора библиотек классов для .NET framework, инструментальных средств и поддержки драйверов сбора данных для Microsoft Visual Studio 2008.

07.06.2008 | 3715
Паяльные станции с автоматической подачей припоя Дополнительные ресурсы в организации современного процесса пайки. Представляем новую паяльную станцию АТР-1115 и индукционную паяльную станцию АТР-1122 с автоматической подачей припоя. Новинки предназначены для эффективного выполнения монтажа поверхностно-монтируемых и монтируемых в отверстия изделий электронной техники, для пайки разъемов, кабелей, жгутов, а также для облуживания деталей и удовлетворяют всем современным требованиям, предъявляемым к паяльному оборудованию.

07.06.2008 | 2853
Новые версии мультистандартных цифровых измерительных приемников Agilent Technologies

На выставке CTIA Wireless, прошедшей в Лас-Вегасе, компания Agilent Technologies представила шесть новых моделей цифровых измерительных приемников W1314A расширенного диапазона. Они предназначены для одновременного измерения параметров всех беспроводных технологий во всех ВЧ диапазонах с помощью одного прибора.

06.06.2008 | 2898
National Instruments представляет новую версию платформы для изучения схемотехники, электротехники и электроники 20 мая 2008 – компания National Instruments объявила о выходе новой версии платформы для изучения схемотехники и электротехники NI ELVIS II, которая широко используется во всем мире для практикумов и лабораторных работ. Созданная на базе мощной среды графического программирования LabVIEW, платформа NI ELVIS дает возможность преподавателям не только использовать 12 различных инструментов через обыкновенное USB-подключение, но и обеспечивает полную интеграцию со средой SPICE-моделирования Multisim 10.1, значительным образом упрощая процесс обучения схемотехнике.

05.06.2008 | 2657
Программное обеспечение USB-лаборатории AKTAKOM поддерживает Windows Vista Разработчики программного обеспечения АКТАКОМ продолжают увеличивать возможности обновления ПО и драйверов для приборов серии USB-lab. Теперь программное обеспечение USB-лаборатории AKTAKOM поддерживает операционную систему Windows Vista. Новые версии ПО AKTAKOM содержат обновлённые драйвера и библиотеки приборов, устойчиво работающие с новой ОC.

05.06.2008 | 3583
Компании Agilent Technologies, Трим и Orbit/FR проводят совместный семинар по антенным измерениям Компании Agilent Technologies (Российское представительство), «НПП «ТРИМ СШП Измерительные системы», (Санкт-Петербург) и “ORBIT/FR Engineering” Ltd (Израиль) проводят уникальный семинар, посвященный антенным измерениям.


Новости

21.02.2021
Тест-С.-Петербург расширяет возможности метрологического обеспечения
20.02.2021
Обучение по программе «Аттестация эталонов единиц величин»
19.02.2021
Онлайн-конференция «Машиночитаемые стандарты: перспективы применения в промышленности»
18.02.2021
Обучение по программе «Поверка и калибровка оптико-физических и физико-химических средств измерений»
14.02.2021
ВНИИМ им. Д.И. Менделеева усовершенствовал эталон единицы температуры
12.02.2021
Научно-практический семинар «Межлабораторные Сравнительные Испытания (МСИ): Теория и практика»
07.02.2021
Серия вебинаров «ФГИС «АРШИН». Новые требования по передаче сведений о результатах поверки»
06.02.2021
Новосибирский ЦСМ Росстандарта расширил область аккредитации
05.02.2021
Новые возможности для поверки и калибровки уровнемеров появились в Кемерово
31.01.2021
Вебинар «Новые требования к аттестации эталонов. Первые практические результаты»

Технические регламенты

28.03.2020
Новый ТР ЕАЭС 048/2019 «О требованиях к энергетической эффективности энергопотребляющих устройств»
31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы

Новости сайта

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.02.1866
День рождения
Выставки