English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(526)
Новости Anritsu(112)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(605)
Новости Metrel(18)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(76)
Новости Rohde & Schwarz(505)
Новости Tektronix(205)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(98)
Новости Росстандарта(137)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Эллипсометрия

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Эллипсометрия – это совокупность методов изучения поверхности жидких и твёрдых тел по состоянию поляризации светового пучка, отражённого этой поверхностью и/или преломлённого на ней. Падающий на поверхность плоско поляризованный свет приобретает при отражении и преломлении эллиптическую поляризацию вследствие наличия тонкого переходного слоя на границе раздела сред. Зависимость между оптическими постоянными слоя и параметрами эллиптически поляризованного света устанавливается на основании формул Френеля. Измерение параметров эллиптически поляризованного света, отраженного или прошедшего через исследуемый образец, позволяет измерять оптические постоянные и толщину тонких пленок.

Источник: ФГУП "ВНИИОФИ"


Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Апрель 2020
КИПиС 2020 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
Конвертер единиц измерения