English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(514)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(592)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(491)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ВНИИОФИ и Национальный институт метрологии Китая (NIM) провели метрологические сличения

ВНИИОФИ и Национальный институт метрологии Китая (NIM) провели метрологические сличения

28.03.2015

В январе 2015 года начальник лаборатории ВНИИОФИ Борис Хлевной совместно со специалистами оптического отделения Национального метрологического института Китая (NIM) провел двусторонние сличения шкал спектральной плотности энергетической освещенности (СПЭО), а также принял участие в исследованиях высокотемпературного черного тела на реперной точке WC-C (3021 К).

Результаты сличений показали хорошее совпадение шкал СПЭО двух институтов в спектральном диапазоне (250 – 2500) нм. Исследования черного тела WC-C продемонстрировали высокую воспроизводимость этой реперной точки и ее перспективность для радиометрии.

Были проведены также сличения реперных ячеек WC-C, изготовленных во ВНИИОФИ и NIM, показавшие совпадение температуры плавления ячеек в пределах 60 мК.

Б. Хлевной выступил с сообщением о состоянии радиометрии во ВНИИОФИ. Китайская сторона выразила заинтересованность в углублении контактов и пригласила директора ВНИИОФИ Владимира Крутикова посетить NIM с визитом для обсуждения и согласования Программы совместных работ.

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (РОССТАНДАРТ)


О компании:  Росстандарт

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала