English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(462)
Новости Anritsu(100)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(535)
Новости Metrel(10)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(421)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(112)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518

Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518

29.06.2013

Система предназначена для тестирования полупроводниковых микросхем, процессоров, ЦАП, АЦП, устройств в системе радио-идентификации, устройств поддерживающих технологии широкополосного вещания и беспроводных сетей, приемопередатчиков.

Имеется возможность для проведения измерений, как в частотной, так и во временной области, спектрального анализа, измерения RF мощностей, потерь, и шумов.

Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518 состоит из 5-слотового шасси стандарта AXIe и 18-слотового шасси стандарта PXI.

В состав AXIe шасси входят системный модуль, 2 модуля DPS12(24 канала обеспечения питания или измерения напряжения и тока.), 2 модуля DD48 (96 цифровых каналов обеспечивают проведение тестирования со скоростями до 400 Мб/с).

В состав PXI входят генератор векторно-модулированных сигналов (50МГц-6ГГц), синтезаторы частот с высоко стабильным выходом для синхронизации, 4 высокочастотных двунаправленных порта c 2-мя выходами , мультиплексор и дигитайзер.(инструменты PXI шасси обеспечивают возможности AXRF-6G RF subsystem).

Система дополняется компьютером и программным обеспечением.

В состав программного обеспечения входят стандартные библиотеки и специфические программы для тестирования определенных устройств.

Холдинг Информтест



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений