English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

NI продемонстрирует умные решения для проектирования и тестирования СВЧ систем на IMS2016

NI продемонстрирует умные решения для проектирования и тестирования СВЧ систем на IMS2016

17.05.2016

NI, производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсирует, что на выставке IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS2016), которая пройдет в Сан-Франциско, Booth 1529, с 22 по 27 мая, продемонстрирует новое, «умное» решение для тестирования и СВЧ проектирования, предназначенное для всего жизненного цикла продукта. Разработка устройств следующего поколения для Интернета Вещей (IoT) и инфраструктуры 5G, бросает вызов методам разработки меньших по размерам, но более умных и быстрых устройств. В мире полупроводников движение в сторону уменьшения размеров и более интегрированных устройств ведет к более умным методикам для проектирования и тестирования радиоустройств. В авиакосмических и оборонных приложениях электронные системы являются ключевыми в повышении комплексности системы и совместимости старого оборудования.

Для эффективной работы на всех фазах разработки продукта клиенты могут воспользоваться преимуществами инновационных решений для проектирования и тестирования от NI, основанных на ПО AWR Design Environment™, LabVIEW и PXI. Решения NI, представленные на IMS2016, включают в себя:

  • Новое измерительное решение для высокоэффективных устройств WLAN (HEW) 802.11ax
  • Достижения в системе СВЧ проектирования NI AWR для усилителей мощности, антенн, фильтров и радиолокационных систем, с новыми возможностями автоматизации и совместимости инструментов
  • Продвинутое решение для тестирования RFIC, – от лабораторных систем определения характеристик до высокопроизводительных производственных систем тестирования
  • Продвинутые технологии волн миллиметрового диапазона для измерения характеристик радиоканала и прототипирования 5G

Президент, исполнительный директор и со-основатель NI, доктор Джеймс Тручард представит закрывающий доклад, под названием Роль ПО в системах следующего поколения 5G и СВЧ в четверг, 26 мая в 16:30. Доктор Тручард рассмотрит важнейшую роль программного подхода к технологическому взрыву беспроводных коммуникаций для высокоскоростной передачи голоса, данных и видео, начиная с раннего прототипирования и исследований, и до полного внедрения системы.

NI проведет 13 презентаций в MicroApps Theater, в дополнение к дискуссии, озаглавленной The 5G IoT Conundrum (Головоломка Интернета вещей 5G), в которой примут участие Эрик Старклофф, исполнительный вице-президент NI по глобальным продажам и маркетингу. Начало запланировано на полдень 25 мая.

www.ni.com

Примечание: см. о выставке IMS 2016 в разделе Обзоры зарубежных выставок по данной ссылке.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.10.1608
Родился итальянский математик и физик, ученик Галилея