English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар, посвящённый тандемной масс-спектрометрии, от компании Agilent Technologies совместно с ВНИИМ им. Д.И. Менделеева

Семинар, посвящённый тандемной масс-спектрометрии, от компании Agilent Technologies совместно с ВНИИМ им. Д.И. Менделеева

10.09.2016

Компания Agilent Technologies совместно с ВНИИМ им. Д.И. Менделеева приглашают Вас принять участие в семинаре: «Возможности тандемной масс-спектрометрии для устранения интерференций различной природы при многоэлементном анализе проб сложного состава в геологии, радиохимии и при проведении научных исследований. Презентация нового тандемного масс-спектрометра с индуктивно-связанной плазмой – Agilent 8900 ИСП-QQQ».

Дата и время семинара: 13 сентября 2016, 10:00
Место семинара: ФГУП ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, Санкт-Петербург, Московский проспект, 19.

В программе семинара:

  • Обзор спектрального оборудования Agilent Technologies для элементного анализа
  • Презентация нового тандемного 8900 ИСП-МС
  • Возможности тандемной масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
  • Опыт использования 8800 ИСП-МС в ВНИИМ им. Д.И. Менделеева
  • Использование ИСП-МС для анализа геологических проб и проб минерального сырья

Подробную программу семинара, а также регистрационную форму, можно найти по данной ссылке.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик