English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Rohde&Schwarz представит новую продукцию на EuMW 2010 в Париже

Rohde&Schwarz представит новую продукцию на EuMW 2010 в Париже

03.09.2010

На Европейской микроволновой неделе (EuMW 2010) в Париже (CNIT/Pierre & MarieCurie, стенд 70/69), Rohde&Schwarz представит свои новейшие достижения в области контрольно-измерительного оборудования и решений для измерений в диапазоне до 500 ГГц. EuMW 2010 пройдет с 26 сентября по 1 октября 2010 года.

Среди продукции представленной на стенде компании, посетители смогут увидеть анализаторы спектра реального времени R&S FSVR до 30 ГГц, R&SSMZ (умножитель частоты до 110 ГГц), в качестве дополнения к генератору сигналов R&S SMF100A, а также решение для анализа сети до 500 ГГц на основе профессионального анализатора сети R&S ZVA.

Кроме того, компания представит два новых семейства осциллографов с пропускной способностью от 500 МГц до 2 ГГц: R&S RTM и R&S RTO. Подробнее об осциллографах Rohde & Schwarz можно узнать на сайте www.scope-of-the-art.com

Более подробную информацию о Европейской микроволновой неделе 2010 можно узнать на сайте www.eumweek.com

Rohde&Schwarz
www.rohde-schwarz.com
www.rohde-schwarz.ru


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"