English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(423)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(506)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(242)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(384)
Новости Tektronix(179)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(90)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар для разработчиков отказоустойчивых микропроцессорных систем управления

Семинар для разработчиков отказоустойчивых микропроцессорных систем управления

19.05.2011

24 мая 2011г. в Москве в ГК «Измайлово Альфа» состоится семинар «Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления», перенесенный с 21 апреля. Семинар предназначен для разработчиков встраиваемых систем управления ответственного назначения.

Задачи семинара: систематизация практического опыта и знаний разработчиков отказоустойчивых систем управления, расширение профессионального кругозора, практические рекомендации для разработчиков.

Авторы и докладчики семинара:

  • Андрей Николаевич Терехов, профессор, директор НИИ информационных технологий СПбГУ, генеральный директор ЗАО «Ланит-Терком»; 
  • Борис Николаевич Кривошеин, к.т.н., директор департамента телекоммуникаций и встроенных систем ЗАО «Ланит-Терком»; 
  • Владимир Борисович Стешенко, к.т.н., зам. генерального конструктора ОАО «Российские космические системы».

Основные вопросы, рассматриваемые на семинаре:

  • вероятностное поведение многоканальных систем управления; 
  • расчет необходимого уровня резервирования, архитектуры систем с двойным и тройным резервированием; 
  • выбор/разработка операционной системы жесткого реального времени; 
  • унификация аппаратных и программных модулей, используемых в отказоустойчивых системах управления; 
  • выбор микропроцессорного ядра для отказоустойчивых систем управления; 
  • тестирования компонентов, управление номенклатурой электронных компонентов и модулей; 
  • информационное сопровождение компонентов и модулей в течение жизненного цикла системы управления.

Подробнее об участии в семинаре можно узнать, пройдя по ссылке: http://www.sovel.org/20110421

Организатор семинара «Центр современной электроники»
www.sovel.org



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик