English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(533)
Новости Anritsu(114)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(612)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(79)
Новости Rohde & Schwarz(517)
Новости Tektronix(207)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(103)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новые микроконтроллеры Texas Instruments MSP430FR2355

Новые микроконтроллеры Texas Instruments MSP430FR2355

08.10.2018

Компания Texas Instruments (TI) представила новые микроконктроллеры, расширившие линейку MSP430 – MSP430FR2355 с конфигурируемыми элементами обработки сигналов. Новые микроконтроллеры, оснащенные сегнетоэлектрическим оперативным запоминающим устройством (FRAM), могут позволить значительно сократить размеры печатной платы, а также расширить диапазон рабочих температур таких измерительных устройствах, как, например, детекторы дыма или автоматические выключатели.

Основные преимущества микроконтроллеров MSP430FR2355:

  • Конфигурируемые элементы обработки сигналов:
    наличие 12-битного ЦАП, программируемого усилителя, 12-битного АЦП и 2х компараторов повышенной точности.
  • Расширенный диапазон температур:
    возможность использования микроконтроллеров в приложениях сбора данных, работающих при температуре до 105 °C
  • Широкий объем памяти новых микроконтроллеров MSP430:
    микроконтроллеры новой версии с ОЗУ до 32 КБ и скоростями центрального процессора до 24 МГц.

Более подробная информация представлена на сайте Texas Instruments по данной ссылке.

www.ti.com


О компании:  Texas Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик