English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(507)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(584)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(484)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(88)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Журнал «Контрольно-Измерительные Приборы и Системы» в подарок на выставке ЭлектронТехЭкспо

Журнал «Контрольно-Измерительные Приборы и Системы» в подарок на выставке ЭлектронТехЭкспо

25.03.2019

С 15 по 17 апреля 2019 г. в МВЦ «Крокус Экспо» в Москве пройдет выставка ЭлектронТехЭкспо. На стенде B681 (зал №13) всем посетителям будет сделан подарок – свежий номер журнала «Контрольно-Измерительные Приборы и Системы»!

С 1996 года журнал «КИПиС» остается верным своей основной идее – освещать самое современное контрольно-измерительное и радиомонтажное оборудование, инновационные технологии, новейшие программные решения и ключевые вопросы метрологии. Спектр тем журнала очень широк! Каждый номер содержит новостной блок с информацией о самых актуальных новинках, статьи специалистов ведущих компаний о применении приборов и методах измерений, а также обзоры крупных промышленных выставок и конференций. Подробнее ознакомится с журналом и оформить подписку Вы можете на нашем сайте и на стенде B681 компании ЭЛИКС (зал №13) на выставке ЭлектронТехЭкспо.

Получите свой бесплатный электронный билет по данной ссылке,
используя промокод
ete19eLIKI.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений